前言：同步辐射吸收谱测试,检测,认证,第三方
能谱类
同步辐射吸收谱测试
同步辐射吸收谱，也称X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单个吸收原子的电子结构（轨道跃迁、杂化），是一种微观的、结构性判断的测试。
粉末XRD
常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°；常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min, 0.5°/min，更多测试要求请咨询客户经理。
单晶XRD
靶材：钼靶、铜靶、旋转靶；测试温度：室温和低温，更多测试要求请咨询客户经理。
紫外光电子能谱UPS
紫外光电子能谱（UPS）是以紫外线为激发光源的光电子能谱。其原理是基于爱因斯坦的光电定律。用惰性气体放电产生的紫外光（*常用的低能光子源为氦Ⅰ和氦Ⅱ）照射试样，使试样中原子或分子的价电子被电离而射出，成为光电子。用静电或磁场偏转型能量分析器检测其能量分布，得到以电子动能（或结合能）为横坐标，电子计数率为纵坐标的光电子能谱图。
掠入射XRD（GIXRD）
掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让X射线略过样品表面的技术，能够通过调节入射角度从而改变探测深度，对表面的灵感度可高达致几nm，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。
X射线荧光光谱仪（XRF）
可测元素范围：11Na-92U